図1は、低コヒーレンス動的光散乱法の測定システムを示す。本測定システムは光ファイバーマイケルソン干渉計を基礎としている。スーパールミネッセントダイオード（SLD）からの光を2×2ファイバーカップラーで2分割し、一方を散乱媒質に、他方を参照光として反射ミラーに照射する。反射ミラーはピエゾ素子によって周波数2kHz、振幅0.18mmで振動しているため、参照光は位相変調されファイバーカップラーに戻る。さらに、参照光の光路長を制御するために、ピエゾ素子は移動ステージ上に取り付けられている。散乱媒質からの後方散乱光はファイバーカップラーに戻り、参照光と同時に光検出器で検出される。検出された光強度から、散乱光の時間ゆらぎのパワースペクトルを測定する。

測定される光強度のパワースペクトルは、散乱光強度揺らぎのスペクトルと散乱光と参照光の干渉成分のスペクトルから成る。散乱光強度揺らぎのスペクトルは、参照光の位相変調の影響は受けないために、０Hzを中心に広がっている。また、従来の動的光散乱法で測定されるスペクトルと同じであり、多重散乱光の影響を受けている、一方、散乱光と参照光の干渉成分のスペクトルは、参照光を位相変調しているため、2kHzを中心に散乱光との干渉成分が現れる。低コヒーレンス干渉計では、光源のコヒーレンス長が短いために、参照光の光路長とほぼ等しい光路長の散乱光成分だけが参照光と干渉する。つまり、干渉成分のスペクトルは、特定の光路長の散乱光の時間揺らぎのみを反映している。したがって、干渉成分のスペクトルのみを取り出すことにより、光路長分解した動的光散乱計測が可能となる。
また、多重散乱光の影響を受けない短い光路長を伝播した散乱光のスペクトルを測定することで、高濃度媒質に対しても単散乱光スペクトルの測定が可能となり、従来の動的光散乱法と同じ計測が可能となる。図２は、3種類の体積濃度10％の単分散ポリスチレン粒子懸濁液、低コヒーレンス動的光散乱法は、高密度粒子の粒子径を精度よく測定可能である。本方法で、体積濃度が20%以上の高濃度ナノ粒子の粒子径計測が可能である。